Elimination of the impact of rc constant on transient photocurrents measured in organic layers.

dc.contributor.authorKania, Sylwester
dc.contributor.authorKuliński, Janusz
dc.date.accessioned2017-08-25T09:44:11Z
dc.date.available2017-08-25T09:44:11Z
dc.date.issued2016
dc.descriptionInstitute of Physics, Faculty of Technical Physics, Information Technology and Applied Mathematics. Lodz University of Technologyen_EN
dc.descriptionInstytut Fizyki, Wydział Fizyki Technicznej, Informatyki i Matematyki Stosowanej, Politechnika Łódzkapl_PL
dc.descriptionCentre of Mathematics and Physics, Lodz University of Technologyen_EN
dc.descriptionCentrum Nauczania Matematyki i Fizyki, Politechnika Łódzkapl_PL
dc.description.abstractWe present a calculation method for elimination of the effect of the RC constant of the measuring circuit in the time-of-flight (TOF) measurements where a pulse generation of the photocurrent in a thin layer of low-molecular organic material is exploited. Presented method allows to eliminate the influence of the component of displacement current related to dielectric losses and obtaining the actual conduction current time dependence. The method was tested on the thin layers of 1,5-dihydroxynaphthalene.en_EN
dc.description.abstractZastosowanie metody eliminacji wpływu stałej RC obwodu pomiarowego do analizy wyników pomiaru fotoprądów przejściowych płynących w cienkiej warstwie niskocząsteczkowego materiału organicznego umożliwia eliminację wpływu składowej prądu przesunięcia związanej ze stratami dielektrycznymi i uzyskanie rzeczywistego przebiegu prądu przewodzenia w funkcji czasu. Pozwala to na wyznaczenie prawidłowej wartości czasu charakterystycznego nawet dla cieńszych warstw, dla których daje się zrealizować pomiar charakterystyki stałoprądowej U-I w zakresie prądów ograniczonych ładunkiem przestrzennym. Otwiera to możliwość pełnej charakteryzacji własności elektrycznych badanego materiału organicznego przy użyciu jednej komórki pomiarowej. Możliwość numerycznego przedstawienia przebiegu przejściowego fotoprądu powinna pozwolić na badanie własności materiału metodą TOF dla uzyskania rozkładu pułapek.pl_PL
dc.identifier.citationScientific Bulletin. Physics, 2016 Vol.37 str. 65-73pl_PL
dc.identifier.issn1505-1013
dc.identifier.otherW serii gł. nr. 1210
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11652/1557
dc.language.isoenpl_PL
dc.publisherWydawnictwo Politechniki Łódzkiejpl_PL
dc.publisherLodz University of Technology. Pressen_EN
dc.relation.ispartofseriesScientific Bulletin. Physics, 2016 Vol.37en_EN
dc.subjectorganic electronicsen_EN
dc.subjectcircuit time constanten_EN
dc.subjectcarrier mobilityen_EN
dc.subjectdrift transporten_EN
dc.subject1,5-dihydroxynaphthaleneen_EN
dc.subjectTOF measurementsen_EN
dc.subjectelectric characterizationen_EN
dc.subjectSCLCen_EN
dc.subjectstała RCpl_PL
dc.subjectfotoprądy przejściowepl_PL
dc.subjectmetoda TOFpl_PL
dc.subjectwarstwy organicznepl_PL
dc.titleElimination of the impact of rc constant on transient photocurrents measured in organic layers.en_EN
dc.title.alternativeEliminacja wpływu stałej rc w pomiarach fotoprądów przejściowych warstw organicznych.pl_PL
dc.typeArtykułpl_PL

Pliki

Oryginalne pliki
Teraz wyświetlane 1 - 1 z 1
Brak miniatury
Nazwa:
Elimination_impact_rc_Kania_Kulinski_2016.pdf
Rozmiar:
211.83 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Opis:
Licencja
Teraz wyświetlane 1 - 1 z 1
Brak miniatury
Nazwa:
license.txt
Rozmiar:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Opis: