Elimination of the impact of rc constant on transient photocurrents measured in organic layers.
Data
2016
Autorzy
Tytuł czasopisma
ISSN czasopisma
Tytuł tomu
Wydawca
Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
Lodz University of Technology. Press
Lodz University of Technology. Press
Abstrakt
We present a calculation method for elimination of the effect
of the RC constant of the measuring circuit in the time-of-flight
(TOF) measurements where a pulse generation of the photocurrent
in a thin layer of low-molecular organic material is exploited.
Presented method allows to eliminate the influence of the
component of displacement current related to dielectric losses and
obtaining the actual conduction current time dependence. The
method was tested on the thin layers of 1,5-dihydroxynaphthalene.
Zastosowanie metody eliminacji wpływu stałej RC obwodu pomiarowego do analizy wyników pomiaru fotoprądów przejściowych płynących w cienkiej warstwie niskocząsteczkowego materiału organicznego umożliwia eliminację wpływu składowej prądu przesunięcia związanej ze stratami dielektrycznymi i uzyskanie rzeczywistego przebiegu prądu przewodzenia w funkcji czasu. Pozwala to na wyznaczenie prawidłowej wartości czasu charakterystycznego nawet dla cieńszych warstw, dla których daje się zrealizować pomiar charakterystyki stałoprądowej U-I w zakresie prądów ograniczonych ładunkiem przestrzennym. Otwiera to możliwość pełnej charakteryzacji własności elektrycznych badanego materiału organicznego przy użyciu jednej komórki pomiarowej. Możliwość numerycznego przedstawienia przebiegu przejściowego fotoprądu powinna pozwolić na badanie własności materiału metodą TOF dla uzyskania rozkładu pułapek.
Zastosowanie metody eliminacji wpływu stałej RC obwodu pomiarowego do analizy wyników pomiaru fotoprądów przejściowych płynących w cienkiej warstwie niskocząsteczkowego materiału organicznego umożliwia eliminację wpływu składowej prądu przesunięcia związanej ze stratami dielektrycznymi i uzyskanie rzeczywistego przebiegu prądu przewodzenia w funkcji czasu. Pozwala to na wyznaczenie prawidłowej wartości czasu charakterystycznego nawet dla cieńszych warstw, dla których daje się zrealizować pomiar charakterystyki stałoprądowej U-I w zakresie prądów ograniczonych ładunkiem przestrzennym. Otwiera to możliwość pełnej charakteryzacji własności elektrycznych badanego materiału organicznego przy użyciu jednej komórki pomiarowej. Możliwość numerycznego przedstawienia przebiegu przejściowego fotoprądu powinna pozwolić na badanie własności materiału metodą TOF dla uzyskania rozkładu pułapek.
Opis
Institute of Physics, Faculty of Technical Physics, Information Technology and Applied Mathematics. Lodz University of Technology
Instytut Fizyki, Wydział Fizyki Technicznej, Informatyki i Matematyki Stosowanej, Politechnika Łódzka
Centre of Mathematics and Physics, Lodz University of Technology
Centrum Nauczania Matematyki i Fizyki, Politechnika Łódzka
Instytut Fizyki, Wydział Fizyki Technicznej, Informatyki i Matematyki Stosowanej, Politechnika Łódzka
Centre of Mathematics and Physics, Lodz University of Technology
Centrum Nauczania Matematyki i Fizyki, Politechnika Łódzka
Słowa kluczowe
organic electronics, circuit time constant, carrier mobility, drift transport, 1,5-dihydroxynaphthalene, TOF measurements, electric characterization, SCLC, stała RC, fotoprądy przejściowe, metoda TOF, warstwy organiczne
Cytowanie
Scientific Bulletin. Physics, 2016 Vol.37 str. 65-73