Wydział Mechaniczny / Faculty of Mechanical Engineering / W1

Stały URI zbioruhttp://hdl.handle.net/11652/1

Przeglądaj

Filtry

2006 - 200912010 - 20131

Ustawienia

Autorsearch.filters.applied.operator.equals: search.filters.author.Szymański, WitoldMa przypisane plikisearch.filters.applied.operator.equals: Tak

Wyniki wyszukiwania

Teraz wyświetlane 1 - 2 z 2
  • Pozycja
    Mikroskopia fluorescencyjna (MF) i elektronowa mikroskopia skaningowa (SEM) w badaniu biofilmu bakteryjnego
    (Wydawnictwo SIGMA-NOT, 2006) Jakubowski, Witold; Klimek, Leszek; Szymański, Witold; Walkowiak, Bogdan
    W ciągu ostatnich lat niezwykle dynamicznie rozwijają się nauki łączące zagadnienia medyczne i inżynierskie. Jednym z efektów obserwowanego postępu jest coraz szerszy zakres wykorzystania biomateriałów wspomagających funkcje życiowe pacjenta. Obecnie medycyna dysponuje materiałami o odpowiedniej charakterystyce fizykochemicznej, a także wysokiej biozgodności. Wciąż jednak obecność implantów może być przyczyną oportunistycznych infekcji bakteryjnych. Bakterie mogą kolonizować sztuczne elementy, tworząc na ich powierzchni wielowarstwowy biofilm. W tej postaci skutecznie opierają się działaniu układu odpornościowego oraz antybiotyków i stają się źródłem wielu zakażeń. Praca przedstawia porównanie dwóch metod obserwacji bakterii na powierzchniach implantów, wskazując na zalety i ograniczenia stosowania mikroskopii fluorescencyjnej i elektronowej mikroskopii skaningowej.
  • Pozycja
    Przygotowanie powierzchni próbek ze stali X38CrMoV5-1pod powłoki ochronne metodą szlifowania elektroerozyjnego AEDG i polerowania.
    (Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich, 2013) Gołąbczak, Andrzej; Święcik, Robert; Szymański, Witold
    W artykule przedstawiono technologię przygotowania powierzchni próbek ze stali narzędziowej X38CrMoV5-1 z zastosowaniem szlifowania elektroerozyjnego AEDG i polerowania mechanicznego. Zakres badań obejmuje porównanie struktury geometrycznej powierzchni SGP ukształtowanej w procesach szlifowania AEDG, polerowania oraz po wytworzeniu warstw ochronnych PVD typu: TiC+a-C:H oraz MoS2TiW. Do pomiarów geometrii powierzchni w poszczególnych etapach zastosowano mikroskop konfokalny (CLSM) oraz profilometr mechaniczny i optyczny.