Podstawy metrologii

dc.contributor.authorCiepłucha, Jan
dc.contributor.editorRed. nauk. Wydziału: Kapitaniak, Tomaszpl_PL
dc.contributor.reviewerKabza, Zdzisławpl_PL
dc.contributor.reviewerKostyrko, Krystynapl_PL
dc.date.accessioned2018-09-10T07:03:45Z
dc.date.available2018-09-10T07:03:45Z
dc.date.issued2005
dc.descriptionPolitechnika Łódzka. Podręczniki akademickie.pl_PL
dc.identifier.citationCiepłucha J., Podstawy metrologii., Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej, Łódź 2005, ISBN 83-7283-159-9.
dc.identifier.isbn83-7283-159-9
dc.identifier.otherid skryba-crisppl_PL
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11652/1899
dc.language.isoplpl_PL
dc.publisherWydawnictwo Politechniki Łódzkiejpl_PL
dc.publisherLodz University of Technology. Pressen_EN
dc.subjectmetrologiapl_PL
dc.subjectprzyrządy pomiarowepl_PL
dc.subjectproces pomiarowypl_PL
dc.subjectopracowanie wyników pomiarowychpl_PL
dc.subjectpomiar - podręczniki akademickiepl_PL
dc.subjectmeasurement - academic textbooksen_EN
dc.subjectmetrologyen_EN
dc.subjectmeasuring instrumentsen_EN
dc.subjectmeasuring processen_EN
dc.subjectdevelopment of measurement resultsen_EN
dc.titlePodstawy metrologiipl_PL
dc.typeKsiążkapl_PL
dc.typebooken_EN

Pliki

Oryginalne pliki
Teraz wyświetlane 1 - 1 z 1
Brak miniatury
Nazwa:
Podstawy_metrologii_Cieplucha_2005.pdf
Rozmiar:
16.73 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Opis:
Licencja
Teraz wyświetlane 1 - 1 z 1
Brak miniatury
Nazwa:
license.txt
Rozmiar:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Opis: