Comparison of methods for simulation of the optical properties of VCSELs

dc.contributor.authorWięckowska, Marta
dc.contributor.authorDems, Maciej
dc.contributor.authorCzyszanowski, Tomasz
dc.date.accessioned2018-04-11T09:17:36Z
dc.date.available2018-04-11T09:17:36Z
dc.date.issued2017
dc.descriptionInstitute of Physics, Lodz University of Technologyen_EN
dc.descriptionInstytut Fizyki, Politechnika Łódzkapl_PL
dc.description.abstractThis paper presents the differences arising from the use of scalar (Effective Frequency Method) and vector (Fourier’s and Bessel’s Admittance Methods) calculation methods in optical analysis of arsenide Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers (VCSELs). Discussed results demonstrate that the vector methods are more accurate than the scalar one, but also they are more time consuming. By comparing two vector methods, it can be seen that the Bessel’s Admittance Method allows to obtain similar qualitatively and quantitatively results in a slightly shorter time. The calculations were performed for structures with varied aperture radius and its location in the resonant cavity. Moreover, this paper includes the comparison of calculation results for a structure in which there are layers with gradually changing refractive index, and the structure in which these layers are replaced by a layer with a constant average refractive index.en_EN
dc.description.abstractW niniejszej pracy przedstawiono wyniki obliczeń propagacji emitowanej fali elektromagnetycznej (jej długości i czasu życia fotonów) dla arsenkowego lasera typu VCSEL. Celem pracy jest przedstawienie różnic płynących z zastosowania skalarnych i wektorowych metod obliczeniowych. Omówione wyniki pokazują, iż metody wektorowe są dużo dokładniejsze od metody skalarnej, ale jednocześnie bardziej czasochłonne. Obliczenia przeprowadzono dla struktur różniących się wartością średnicy apertury oraz jej położeniem wzdłuż wnęki rezonansowej. Ponadto metodą skalarną wykonano obliczenia dla struktury, w której występują warstwy o gradientowo zmieniającym się współczynniku załamania, oraz dla struktury, w której warstwy te zastąpiono warstwą pośrednią o stałym współczynniku załamania. Celem pracy jest również pokazanie różnic w wynikach otrzymanych dla powyższych przypadków.pl_PL
dc.identifier.citationWięckowska M., Dems M., Czyszanowski T., Comparison of methods for simulation of the optical properties of VCSELs. W: Scientific Bulletin of the Lodz University of Technology Physics No. 1219, Vol. 38, Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej, Łódź 2017, s. 71-80, ISSN 1505-1013, e-ISSN 2449-982X, doi: 10.34658/physics.2017.38.71-80.
dc.identifier.doihttps://doi.org/10.34658/physics.2017.38.71-80
dc.identifier.doi10.34658/physics.2017.38.71-80
dc.identifier.issn1505-1013
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11652/1777
dc.identifier.urihttps://doi.org/10.34658/physics.2017.38.71-80
dc.language.isoenen_EN
dc.publisherWydawnictwo Politechniki Łódzkiejpl_PL
dc.publisherLodz University of Technology. Pressen_EN
dc.relation.ispartofScientific Bulletin of the Lodz University of Technology Physics No. 1219, Vol. 38, Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej, Łódź 2017, ISSN 1505-1013, e-ISSN 2449-982X, doi: 10.34658/physics.2017.38.
dc.relation.ispartofseriesScientific Bulletin of the Lodz University of Technology Physics No. 1219, Vol. 38pl_PL
dc.subjectmodelling of semiconductor devicesen_EN
dc.subjectsemiconductor lasersen_EN
dc.subjectverticalcavity surface-emitting laser (VCSEL)en_EN
dc.subjectmodelowanie urządzeń półprzewodnikowychpl_PL
dc.subjectlaser półprzewodnikowypl_PL
dc.subjectlaserowa emisja powierzchniowa (VCSEL)pl_PL
dc.titleComparison of methods for simulation of the optical properties of VCSELsen_EN
dc.title.alternativePorównanie metod symulacji właściwości optycznych laserów VCSELpl_PL
dc.typeArtykułpl_PL
dc.typearticleen_EN

Pliki

Oryginalne pliki
Teraz wyświetlane 1 - 1 z 1
Brak miniatury
Nazwa:
Compar_methods_simulat_Wieckowska_2017.pdf
Rozmiar:
702.23 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Opis:
Licencja
Teraz wyświetlane 1 - 1 z 1
Brak miniatury
Nazwa:
license.txt
Rozmiar:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Opis: