Dielectric and flexoelectric deformations induced by ac electric field in insulating nematic layers
Brak miniatury
Data
2010
Tytuł czasopisma
ISSN czasopisma
Tytuł tomu
Wydawca
Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej
Lodz University of Technology. Press
Lodz University of Technology. Press
Abstrakt
The deformations of homeotropic nematic layers induced by ac electric field of frequency f were studied numerically. Two kinds of nematic liquid crystals with small negative dielectric anisotropy, Δε < 0, were considered: (i) the non-flexoelectric nematic, (ii) the nematic characterised by the positive sum of flexoelearic coefficients e = e11 + e33 > 0. It was found that at sufficiently low frequencies, the deformations varied with time. The deformations of purely dielectric nature had the period l/(2f). The time period of flexoelectric distortions was equal to 1/f. The influence of rotational viscosity and of thickness of the layer on the dynamics of deformations was analysed.
Zbadano numerycznie odkształcenia homeotropowych warstw nematyków wywołane zmiennym polem elektrycznym o częstości f. Rozpatrzono dwa rodzaje nematycznego ciekłego kryształu o malej anizotropii dielektrycznej Δε < 0: nematyk pozbawiony właściwości fleksoelektrycznych oraz nematyk scharakteryzowany dodatnią sumą współczynników fleksoelektrycznych e=e11+e33 > 0. Stwierdzono, że przy dostatecznie niskiej częstości odkształcenie zmienia się okresowo z czasem. Okres deformacji czysto dielektrycznych wynosi l/(2f), a deformacji o naturze fleksoelektrycznej równy jest l/f. Przeanalizowano wpływ lepkości rotacyjnej i grubości warstwy na dynamikę odkształceń.
Zbadano numerycznie odkształcenia homeotropowych warstw nematyków wywołane zmiennym polem elektrycznym o częstości f. Rozpatrzono dwa rodzaje nematycznego ciekłego kryształu o malej anizotropii dielektrycznej Δε < 0: nematyk pozbawiony właściwości fleksoelektrycznych oraz nematyk scharakteryzowany dodatnią sumą współczynników fleksoelektrycznych e=e11+e33 > 0. Stwierdzono, że przy dostatecznie niskiej częstości odkształcenie zmienia się okresowo z czasem. Okres deformacji czysto dielektrycznych wynosi l/(2f), a deformacji o naturze fleksoelektrycznej równy jest l/f. Przeanalizowano wpływ lepkości rotacyjnej i grubości warstwy na dynamikę odkształceń.
Opis
Słowa kluczowe
Cytowanie
Sci. Bull. Tech. Univ. Lodz Phys., 2010 Vol.31 s.13-23 streszcz.