Strzecha, KrzysztofFabijańska, AnnaSankowski, DominikBąkała, MarcinKoszmider, Tomasz2015-06-032015-06-032010Zeszyty Naukowe Politechniki Łódzkiej. Elektryka., 2010 z.121 s.223-2400374-48170000027208W serii gł. nr 1078. Zeszyt jubileuszowy. 15 lat Katedry Informatyki Stosowanej.http://hdl.handle.net/11652/392W artykule przedstawiono skomputeryzowany system do pomiaru własności fizyczno-chemicznych (kąt zwilżania, napięcie powierzchniowe) wybranych materiałów w wysokotemperaturowych procesach przemian fazowych. Zastosowanie w omówionym systemie, specjalnie opracowanych metod przetwarzania i analizy obrazów, pozwoliło na uzyskanie większej dokładności oraz powtarzalności pomiarów, niż w systemach stosowanych obecnie. Przedstawiona została historia stanowiska oraz aktualnie prowadzone prace rozwojowe.application/pdfplArtykuł